BI-DCP/ BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理，通過高精度的數(shù)字式電機(jī)控制，是具有統(tǒng)計(jì)意義的粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確率很...
|
廣角激光光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關(guān)器，通過動(dòng)態(tài)光散射的方法可以測(cè)量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態(tài)光散射...
|
90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動(dòng)態(tài)光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測(cè)試儀器。
動(dòng)態(tài)光散射原...
|
90Plus PALS納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀是能夠精準(zhǔn)測(cè)量低電泳遷移率體系Zeta電位的儀器，它采用的是真正的...
|
Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Anal...
|
表面缺陷檢測(cè)與控制PhoeniX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測(cè)設(shè)備。表面缺陷檢測(cè)與控制PhoeniX...
|
表面缺陷檢測(cè)與控制ScrappiX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測(cè)設(shè)備。表面缺陷檢測(cè)與控制Scrapp...
|
表面缺陷檢測(cè)與控制MatliX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測(cè)設(shè)備。表面缺陷檢測(cè)與控制MatliX可...
|
X射線衍射儀，可變平行光束和聚焦幾何尺寸，可變粉末樣品臺(tái)和Eulerian Cradle。具有0.4度狹縫準(zhǔn)直器的平行光束檢測(cè)器。...
|
佳航JH300／JH500 全自動(dòng)折光儀配備高性能線陣CCD感光部件，通過高速、高精度的信號(hào)采集和分析處理技術(shù)，配有半導(dǎo)體帕...
|
儀邁Insmark的IR200系列手持式折光儀，時(shí)尚不同的造型，與眾不同的液晶顯示，屏幕導(dǎo)航功能，實(shí)現(xiàn)無紙化操作。
IR200系...
|
儀邁Insmark的IR100系列智能折光儀，精度達(dá)到高水平0.00001，友好的中文彩屏界面及中英文輸入功能，符合GLP、國際糖度...
|
儀邁Insmark的IP-digi600系列數(shù)字旋光儀，分辨率雙精度可選；GLP模式，數(shù)據(jù)溯源，電子簽名；IP-digi600系列數(shù)字旋光儀...
|
儀邁Insmark IP-digi300系列數(shù)字旋光儀，技術(shù)指標(biāo)與模擬旋光儀相比很多提升。8″彩色觸摸屏，友好的操作界面。提供外部...
|
儀邁Insmark IP100系列智能旋光儀，7''彩色觸摸屏，符合GLP、藥典，在傳統(tǒng)的技術(shù)平臺(tái)上，優(yōu)化器件選擇、制造工藝、界面...
|
SAXSpace納米結(jié)構(gòu)分析儀(X-射線結(jié)構(gòu)分析）使用小角和廣角X-射線散射(SAXS/WAXS) 方法研究納米結(jié)構(gòu)，研究對(duì)象包括蛋白質(zhì)...
|
Abbemat 200簡(jiǎn)易型全自動(dòng)折光儀，該款簡(jiǎn)易型全自動(dòng)折光儀不僅具備了所有的基本功能，簡(jiǎn)潔直觀，開箱即用，而且?guī)缀鹾w...
|
Abbemat 300/500 高性能和高.端模塊化系列折光儀日常分析和質(zhì)量控制的解決方案，而Abbemat 350/550 高性能和高.端模塊...
|
高.端多功能系列折光儀是專為惡劣環(huán)境和特殊應(yīng)用如高溫，多波長(zhǎng)或垂直操作以避免在棱鏡上形成沉淀等而設(shè)計(jì)的。
為了防...
|
三維尺寸及表面缺陷檢測(cè)儀是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測(cè)設(shè)備。可以檢測(cè)產(chǎn)品的表面，控制主...
| |
